Home
Plasmatechnik
Lexikon
FAQ
Plasmaanlagen
Dienstleistungen
Links/Vertretungen
Referenzen
Messen
Kontakt
Anfahrt
Stellenangebote
Wir über uns
Infocenter / Presse
TOF-SIMS
Abkürzung für Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, Methode der Oberflächenanalyse, bei der die Oberfläche mit einem gepulsten Ionenstrahl beschossen wird. Aus der Flugzeit der emittierten Sekundärionen lässt sich deren Masse und damit Element genau bestimmen.
Home
|
Plasmatechnik
|
Lexikon
|
FAQ
|
Plasmaanlagen
|
Dienstleistungen
|
Links/Vertretungen
|
Referenzen
|
Messen
|
Kontakt
|
Anfahrt
|
Stellenangebote
|
Wir über uns
|
Infocenter / Presse
© 2008 Diener electronic GmbH + Co. KG
