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Rasterelektronen-Mikroskopie, das am weitesten verbreitete Verfahren zur Abbildung von Festkörpern mit hoher Auflösung und Tiefenschärfe. Die Oberfläche wird mit Elektronen bestrahlt, gemessen wird die Rückstreuung von Sekundärelektronen, deren Intensität eine direkte Abbildung der Oberfläche ergibt.
   
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Warning: Unknown(): Failed to write session data (files). Please verify that the current setting of session.save_path is correct (/tmp) in Unknown on line 0