diener electronic  |  Plasma-Surface-Technology Plasma Plasma systems Surface-Technology
german english spanish usa turkish italian french
russian polish czech chinese japonese taiwanese  
 
 
 AFM 
Atomic Force Microscopy için kısaltmadır, yani Atom gücü mikroskopisi, Üst yüzeyin ince bir kolda takılı bulunan oldukça ince bir iğne tarafından tarandığı üst yüzeylerin incelenmesine yönelik bir yöntemdir. İğne ve üst yüzey arasındaki güçlerin değerlendirilmesi sayesinde üst yüzey yapısından oldukça net görünümler elde edilebilmektedir.

   
  Ana sayfa | Plazma tekniği | Sözlük | SSS | Plazma sistemleri | Temsilcilerimiz | Fuarlar | Bize ulaşın | Ulaşım | Hakkımızda
  © 2008 Diener electronic GmbH + Co. KG