Ana sayfa
Plazma tekniği
Sözlük
SSS
Plazma sistemleri
Temsilcilerimiz
Fuarlar
Bize ulaşın
Ulaşım
Hakkımızda
TOF-SIMS
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, kısaltması, yüzeyin darbeli iyon ışınları ile vurularak analizinde kullanılan bir mettottur. Yollanan ikincil iyonların uçuş süreleri, hacimlerinin ve bununla birlikte elementin ne olduğunun belirlenmesini sağlar.
Ana sayfa
|
Plazma tekniği
|
Sözlük
|
SSS
|
Plazma sistemleri
|
Temsilcilerimiz
|
Fuarlar
|
Bize ulaşın
|
Ulaşım
|
Hakkımızda
© 2008 Diener electronic GmbH + Co. KG
